日本HIOKI日置電阻計(jì)RM3542A 優(yōu)勢(shì)供應(yīng)
如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: 日本HIOKI日置電阻計(jì)RM3542A 優(yōu)勢(shì)供應(yīng)
產(chǎn)品型號(hào): RM3542A
產(chǎn)品展商: 日本HIOKI日置
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
日本HIOKI日置電阻計(jì)RM3542A 優(yōu)勢(shì)供應(yīng)
日本HIOKI日置電阻計(jì)RM3542A 優(yōu)勢(shì)供應(yīng)
日本HIOKI日置電阻計(jì)RM3542A 優(yōu)勢(shì)供應(yīng)
的詳細(xì)介紹
*適合于自動(dòng)設(shè)備的電阻計(jì),可測(cè)量極小電子元件
● 通過(guò)施加電壓限制功能,檢查電壓可以改為5V以下
● 控制沖擊電流的接觸改善功能,支持測(cè)量極小元件
● 豐富的測(cè)量,確保檢測(cè)電壓,實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測(cè)量
● 縮放功能能夠補(bǔ)償實(shí)裝狀態(tài)或檢查階段的偏差
主機(jī)不帶治具。由于考慮到要組裝至自動(dòng)設(shè)備中,因此請(qǐng)客戶按照用途自行制作。
基本參數(shù)(精度保證時(shí)間1年,調(diào)整后精度保證時(shí)間1年)
電阻測(cè)量量程
|
[Low Power OFF時(shí)]量程100mΩ (*大顯示120.0000mΩ, 分辨率0.1μΩ) ~100MΩ(*大顯示120.0000MΩ, 分辨率100Ω), 16檔切換
[Low Power ON時(shí)]量程1000mΩ (*大顯示1200.000mΩ, 分辨率1μΩ) ~1000Ω (*大顯示1200.000Ω, 分辨率1mΩ), 6檔切換
|
顯示
|
單**形LCD240 × 64 dot, 白色LED背光燈
|
測(cè)量精度
|
[量程100mΩ, SLOW時(shí)] ±0.015 % rdg. ±0.002 % f.s.
[量程1000Ω, SLOW時(shí)] ±0.006 % rdg. ±0.001 % f.s. (*高精度)
|
測(cè)試電流
|
[量程100mΩ時(shí)] DC 100mA~[量程100MΩ時(shí)] DC 100nA
|
開(kāi)路端子電壓
|
DC 20 V max. 施加電壓限制功能ON時(shí):DC 10 V以下
|
采樣
|
FAST, MED, SLOW
|
測(cè)量時(shí)間Low Power OFF時(shí)
|
[量程100Ω, 1000Ω時(shí)] FAST 0.9 ms, MED 3.6 ms, SLOW 17 ms (*短測(cè)量時(shí)間)
|
累積時(shí)間
|
檢測(cè)電壓的讀取時(shí)間: 0.1ms~100.0ms, 1~5 PLC: 50Hz時(shí), 1~6 PLC: 60Hz時(shí) (PLC:供電電源的1個(gè)周期)
|
其他功能
|
比較器(設(shè)置值和測(cè)量值的比較判定), 延遲設(shè)置, 施加電壓限制功能能,縮放功能,偏壓補(bǔ)償(OVC), 測(cè)量異常檢測(cè), 探頭短路檢測(cè), 接觸改善, 存儲(chǔ)功能, 同級(jí)運(yùn)算, 設(shè)置監(jiān)視(和另一臺(tái)RM3542的測(cè)量條件比較), 重試, 觸發(fā)功能等
|
接口
|
RS-232C,打印機(jī),GP-IB(-51型號(hào))
|
外部輸入輸出
|
觸發(fā)、保持輸入、比較器輸出等,設(shè)置監(jiān)視端子
|
電源
|
AC100~240 V, 50/60 Hz, 30 VA max.
|
體積及重量
|
260W × 88H × 300D mm, 2.9 kg
|
附件
|
電源線×1, EXT. I/O用公頭連接器×1, 使用說(shuō)明書(shū)×1, 操作指南×1
|
外加電壓限制功能能輕松測(cè)量極小電子元件(0201尺寸)
通過(guò)將測(cè)量時(shí)的外加電壓限制在5V以下,額定電壓較小的0201尺寸的原件無(wú)需外加壓力即可進(jìn)行測(cè)量。
快速、準(zhǔn)確的接觸,接觸改善功能
與測(cè)試物接觸時(shí),可以刺破探頭和測(cè)試物之間的氧化膜和污垢,改善接觸狀態(tài)。通過(guò)改善接觸**實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測(cè)量,而且能降低接觸錯(cuò)誤率,從而提供生產(chǎn)效率。
針對(duì)低功率測(cè)量的接觸改善功能
進(jìn)行接觸改善時(shí),通過(guò)控制流出測(cè)試物中的沖擊電流,可以將接觸改善的使用范圍擴(kuò)大至小型的鐵氧體磁珠或0201尺寸的極小電阻檢查中。
使用縮放功能可以補(bǔ)償并測(cè)量實(shí)際安裝狀態(tài)
通過(guò)縮放功能, 實(shí)際安裝時(shí)和單獨(dú)下能夠補(bǔ)償檢查時(shí)的電阻值的差異(探測(cè)位置的影響等)。在進(jìn)行分流等低電阻的電流檢測(cè)電阻的檢查發(fā)揮作用。