阻抗分析儀
ZA57630
“True Value”
測量真正的特性。
▲ ZA57630
從電子零件、半導(dǎo)體器件到材料的特性評價,應(yīng)對多樣的阻抗測量需求
基本精度
頻率范圍
阻抗范圍
測量 AC 信號級別
DC 偏置
測量時間
測量參數(shù)
±0.08%
10 μHz~36 MHz
10 μΩ~100 GΩ (模式: IMPD-EXT)
0.01 mVrms~3 Vrms
0.1 μArms~60 mArms
?5 V ~ +5 V/?40 V ~ +40 V (1 kHz以上)
100 mA ~ +100 mA
0.5 ms/point
Z, R, X, Y, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, θz, θy, D, Dε, Dμ,
Q, V, I, εs, εs’, εs”,μs, μs’, μs”, FREQUENCY
快速測量 業(yè)界*快 0.5 ms/point
實現(xiàn)了業(yè)界*快的0.5ms/point。
縮短生產(chǎn)線的節(jié)拍時間,提高測量作業(yè)的效率。
此外,通過增加設(shè)定的測量時間,使測量結(jié)果平均化,減輕噪聲的影響。可視需要選擇*合適的測量時間。
4種測量模式 應(yīng)對廣泛的DUT
IMPD-3T
標(biāo)準(zhǔn)測量模式
本模式可以在廣泛的頻率范圍內(nèi)進行高精度測量??墒褂脺y試線及測試夾具,應(yīng)對各種形狀的試樣。
IMPD-2T
高頻測量模式
本模式可以在 10MHz 以上的高頻下進行穩(wěn)定的測量。使用 N 型連接器進行 2 端子測量,即便配線長,也可以進行穩(wěn)定的測量。
IMPD-EXT
外部擴展測量模式
本模式為外部連接放大器或分流電阻等物進行測量。
可以通過施加高壓信號或檢測微小電壓 / 電流進行單獨使用本儀器無法應(yīng)對的測量。
G-PH
增益/相位測量模式
本模式可以測量濾波器、放大器等的傳輸特性。向被測電路施加掃描信號,高精度地測量其頻率響應(yīng)(增益、相位)。
正面面板測量端子