四川成都重慶西安貴州云南供應(yīng)美國TSI3938型掃描電遷移率粒徑譜儀

產(chǎn)品詳情

TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀被廣泛應(yīng)用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標(biāo)準(zhǔn)。該系統(tǒng)同樣被應(yīng)用于對液體懸浮顆粒進行**的納米顆粒粒徑測量。美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)局（NIST）使用TSI差分靜電遷移率分析儀（DMA）對60nm和100nm的標(biāo)準(zhǔn)參考粒徑進行測量。SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀粒徑測量是審慎的技術(shù)，在該技術(shù)方法中計數(shù)濃度會被直接測量而無需假設(shè)粒徑分布的形狀。該方法不依賴于粒子或液體的折射率且具有高度的**粒徑測量精度和測量可重復(fù)性。TSI的3938型儀器是SMPS第三代產(chǎn)品，歷經(jīng)30年深受研究者信任。

特性和優(yōu)點

• 高分辨率數(shù)據(jù)：高達167通道
• 1nm到1,000nm的極寬粒徑范圍
• 符合ISO 15900:2009標(biāo)準(zhǔn)
• 快速測量：<10s掃描
• 寬濃度范圍，高達 10 7 顆粒/cm 3
• 給您*大靈活度的組件設(shè)計
• 觸摸屏控制無需電腦操作
• 免工具安裝易于設(shè)置，自動發(fā)現(xiàn)組件
• 審慎的顆粒測量：適合多模樣品
• 不依賴于粒子和流體的光學(xué)性質(zhì)
• 寬系統(tǒng)配置選項：可選水介質(zhì)或丁醇介質(zhì)凝聚粒子計數(shù)器；可選傳統(tǒng)的或無輻射中和器  

應(yīng)用

• 納米技術(shù)研究和材料合成
• 大氣研究和環(huán)境檢測
• 燃燒和發(fā)動機排放研究
• 室內(nèi)空氣質(zhì)量測量
• 成核/凝結(jié)研究
• 吸入毒理學(xué)研究    

包含組件

• 與您自選DMA差分靜電遷移率分析儀配套的靜電分級器
• 七款凝聚粒子計數(shù)器之一
• Aerosol Instrument Manager®氣溶膠儀器管理軟件  

用于數(shù)據(jù)采集的電腦須單獨購買。

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